CEI EN 60749-2

La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e si occupa delle prove a bassa pressione atmosferica sui dispositivi a semiconduttore.
La prova di pressione atmosferica viene effettuata in condizioni che simulano la bassa pressione che si riscontra nelle zone non pressurizzate di aeromobili o di altri mezzi volanti a grandi altezze.
Anche se le basse pressioni non hanno effetti distruttivi dal punto di vista elettrico, l'effetto corona con relative perdite e ionizzazione viene intensificato.
Le condizioni simulate di alta quota in questo tipo di prova, possono essere usate per analizzare l'influenza sulle caratteristiche funzionali ed operative dei componenti di altri effetti della pressione ridotta, quali modifica della rigidità dielettrica dei materiali e ridotta capacità dell'aria rarefatta di dissipazione del calore prodotto dai componenti.
La prova ha lo scopo di valutare la capacità di componenti e materiali di evitare danni per scariche di tensione a causa della ridotta capacità dielettrica dell'aria o di altri materiali isolanti a pressioni ridotte.
Questa prova si applica a dispositivi con tensione di funzionamento superiore a 1000 V.
La prova è applicabile a tutti i dispositivi a semiconduttore esclusi con confezioni del tipo a cavità.
Inoltre questa prova si rivolge esclusivamente ad applicazioni militari e spaziali.
In generale la prova a bassa pressione atmosferica è conforme alla IEC 60068-2-13, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.